Il corso fornisce conoscenze sui seguenti argomenti: Introduzione ai fondamenti della microscopia elettronica e descrizione dei microscopi elettronici a scansione e a trasmissione. La teoria di formazione dell'immagine, la definizione di risoluzione e la descrizione di un sistema di lenti sono estesi e rivisti per descrivere i principi di funzionamento del microscopio elettronico, che opera con un fascio di elettroni accelerati. Verranno descritte le modalità di immagine che possono essere realizzate configurando il microscopio, con particolare enfasi all'utilità che si può trarre dall'impiego della microscopia elettronica per la caratterizzazione su scala dei materiali.
Prerequisiti
Conoscenza di Analisi matematica I e II, Fisica I e II, Chimica e Struttura della materia.
Metodi didattici
Lezioni frontali, dimostrazioni pratiche presso i laboratori di microscopia del CNR - IMM Sezione di Bologna.
Verifica Apprendimento
Esame finale - Orale
Testi
Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Authors: Williams, David B., Carter, C. Barry ISBN 978-0-387-76501-3
Dispense del docente
Contenuti
Basi teoriche ed applicative di microscopia ottica ed elettronica, principi di funzionamento di microscopi elettronici a scansione e trasmissione (SEM e TEM). Ottica di Fourier, definizione di risoluzione. Interazione elettrone-campione e segnali generati di interesse per la microscopia SEM convenzionale (Elettroni Secondari e Elettroni Retrodiffusi) e per la microscopia TEM (Elettroni Trasmessi, e diffratti). Introduzione alla elaborazione delle immagini. Casi dimostrativi e pratica.
